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单片式清洗设备XS3000系列
○ 支援短秒数制程配方,最佳化产出,减少化学品用量
○ 制程腔体具备高压清洗、热水清洗及双面清洗功能,最佳化洗净能力
○ 优化制程腔体流场设计,可搭配二流体或MEGASONIC,提升晶圆洁净度,优化颗粒清除能力
○ 定制化机械手臂,提升空间利用率,缩小机台占地面积
○ 可搭载浓度监控系统,透过药水浓度监控,提升制程稳定度
○ 配置静电防护机制,避免静电带来制程缺陷
○ 针对高翘曲晶圆特殊设计,有效解决晶圆传送及夹持问题
○ 标准MES功能,全面支持SECS / GEN通讯,并可实现系统联动及数据上传功能
产品详情
适用制程 Brush Clean
应用领域 半导体先进封装、2.5D/3D IC封装、化合物半导体、硅晶圆制造、SiC晶圆制造、 MOSFET晶圆后段制程(BGBM)、车用二极管、石英元件、CIS光学元件
适用尺寸 100&150mm、150&200mm、200&300mm制程腔体
适用材质 Si, GaAS, Glass, SiC, InP, Sapphire, LT/LN
承载方式 水道或水车模式,标准Cassette,6/8寸SMIF,12寸Foup Loadport
化学品 SC1, SC2, DHF, etc.
单元数量 1~4 sets
Chuck Lift pin or Vacuum
工艺指标 颗粒控制:增加值<20颗@0.2微米(来料颗粒<50颗)
金属离子:5E9 atoms/cm2
破片率 ≤1/10000
MTBF >500h